Eksamiküsimused aines

"Veakindlad Digitaalsüsteemid"

  1. Sissejuhatus testimisse, isetestimisse ja veakindlusse
  2. Digitaalsüsteem kui diagnostikaobjekt
  3. Mikroprogrammjuhtimise põhimõte digitaalsüsteemides
  4. Mikroprogrammide abstraktse esituse vormid ja nende võrdlus
  5. Algoritmi loogikaskeem
  6. Algoritmi maatriks- ja graafskeem
  7. Otsustusdiagrammid kui diagnostikamudel
  8. Algoritmi loogikaskeem kui diagnostikamudel
  9. Mikroprogrammide ekvivalentsus ja teisendamine
  10. Siirdevalemid ja nende teisendamine
  11. Algoritmi loogikaskeemi süntees siirdevalemitest
  12. Mikrokäskude süntees
  13. Mikrokäskude formaadid ja kodeerimine
  14. Mikrokäskude adresseerimine
  15. Operatsioonautomaadi struktuurne baas
  16. Operatsioonelemendid
  17. Spetsialiseeritud operatsioonielemendid
  18. Operatsioonautomaadi kanooniline struktuur
  19. Mikrooperatsioonide ekvivalentsus
  20. Mikrooperatsioonide üldistatud operaatorid
  21. I-automaadi mõiste ja süntees
  22. M-automaadi struktuur ja omadused
  23. IM-automaadi mõiste ja võrdlus I- ning M-automaatidega
  24. Paralleelne IM-automaat
  25. Järjestikuline IM-automaat
  26. S-automaat ja tema modifikatsioonid
  27. Juhitava struktuuriga operatsioonautomaat
  28. Isetestiva süsteemi mõiste
  29. Stohhastiline ja determineeritud testimine
  30. Lineaarse tagasisidestusega nihkeregister
  31. Stohhastiliste testide generaator
  32. Signatuuranalüsaator
  33. Manustester nihkeregistrite baasil (BILBO)
  34. Tsüklilise testahelaga manustester
  35. Universaalne manustester
  36. Isetestimise optimeerimine
  37. Digitaaldisaini standard: äärskaneerimine (Boundary Scan)
  38. Vigade avastamine seadme töö käigus
  39. Hamming'i vigu avastavad ja parandavad koodid
  40. Tsüklilised koodid
  41. Veakindel loogiline disain
raiub@pld.ttu.ee
Viimati muudetud: 26. 02. 97