CURRICULUM VITAE


 







1. ISIKLIKUD ANDMED
 
 
Nimi:  Raimund-Johannes Ubar
Akadeemiline tiitel:   tehnikadoktor
Töökoht:
 arvutitehnika instituudi professor, 
 Tallinna Tehnikaülikool
Töökoha aadress:
 Ehitajate tee 5, Tallinn, EE0026, Estonia
 Tel.: (372) 620 2252
 Fax: (372) 620 2253
 E-mail: raiub@pld.ttu.ee
Isikuaadress:
 Õismae tee 45-77, Tallinn, EE0035, Estonia
 Tel.: (372) 6 574732
Sünniaeg:  16.dets.1941
Passiandmed:  K0844475
Isikukood:  34112160247
Perekonnaseis:  abielus, tütar

2. ANDMED HARIDUSE JA TEADUSLIKE KUTSETE KOHTA

1988  Professor (TTÜ, Moskva-VAK)
1987  Tehnikadoktor (Riia Arvutustehnika instituut, Moskva-VAK)
1978  Dotsent (TTÜ, Moskva-VAK)
1971  Tehnikakandidaat (Moskva Baumani nim. Kõrgem Tehnikakool, VAK)
1968-1971 Aspirantuur Moskva Baumani nim. Kõrgemas Tehnikakoolis
1960-1966 Tallinna Polütehniline instituut
1949-1960 Tallinna 22. Keskkool

3. AKADEEMILIS - PEDAGOOGILINE TEGEVUS

1992-   Arvutitehnika instituudi professor
1993-1997  Elektroonika kompetentsuskeskuse juhataja
1988 (4 kuud)  Barkhauseni õppetool Dresdeni Tehnikaülikoolis (Saksamaa)
1987-1992  Arvutitehnika kateedri juhataja
1983 (3 kuud)  Külalisdotsent Wismari Kõrgemas Tehnikakoolis (Saksamaa)
1978-1987  Dotsent
1971-1978  Vanemõpetaja
1971   Assistent

4. TOOTMISALANE TEGEVUS TÖÖSTUSES

1965 - 1968  Insener, vaneminsener, grupijuht tehase “Punane RET”  Elektroonika Konstrueerimisbüroos

5. ERIALANE TÄIENDAMINE VÄLISMAAL

1998 Grenoble’i Polütehniline Instituut (Prantsusmaa) – 2 kuud
1998 Grenoble’i Joseph Fourier’ Ülikool (Prantsusmaa) – 2 kuud
1997 Fraunhofer’i Integraalskeemide Instituut (Dresden, Saksamaa) – 3 kuud
1996 Torino Polütehniline Instituut (Itaalia) – 2 kuud
1996 Michigani Ülikool (USA) – 1 kuu
1995 Grenoble’i Polütehniline Instituut (Prantsusmaa) – 1,5 kuud
1994 Grenoble’i Polütehniline Instituut (Prantsusmaa) – 2 kuud
1993 Darmstadti Tehnikaülikool (Saksamaa) – 1 kuu
1992 Grenoble’i Polütehniline Instituut (Prantsusmaa) – 4 kuud
1991 Linköpingi Ülikool (Rootsi) – 2 kuud
1990 Linköpingi Ülikool (Rootsi) – 1 kuu
1988 Dresdeni Tehnikaülikool (Ida-Saksamaa) – 4 kuud
1984 Vismari Kõrgem Tehnikakool (Ida-Saksamaa) – 3 kuud
1975-76  Dresdeni Tehnikaülikool (Ida-Saksamaa) – 10 kuud

Lühemate loengute või loengukursustega olen esinenud veel 25-30 ülikoolis või teaduslikus uurimisasutuses
Soomes, Rootsis, Norras, Taanis, Saksamaal, Prantsusmaal, Itaalias, Poolas, Ungaris, USA-s ja teistes maades.

6. AKADEEMILINE SPETSIALISEERUMINE

a) õppetöö osas
Bakalaureusekursused:
- LIF 3970 “Digitaalsüsteemide diagnostika”
- LIF 3330 “Digitaalsüsteemide disain ja test”
- LIF 3191 “Veakindlad digitaalsüsteemid”
- LIF 3160 “Arvutite teooria ja projekteerimine”
Magistrikursused:
- LIF 5510 “Sissejuhatus Boole’i diferentsiaalalgebrasse”
- LIF 5520 “Alternatiivsed graafid ja digitaalsüsteemide diagnostika”
- LIF 5901 “Testide süntees digitaalsüsteemides”
- LIF 5500 “Testianalüüs digitaalsüsteemides”
- LIF 5911 “Testitavuse parandamine digitaalsüsteemides”
Oma ülikoolikarjääri jooksul olen lugenud veel kursusi programmeerimisest, elektroonikast, analoog- ja digitaalarvutitest, automaatide teooriast, arvutite aritmeetika ja loogika alustest, arvutite hooldusest, automaatikavahendite konstrueerimisest, digitaalsüsteemide kaasaegsetest projekteerimismeetoditest jms.
b) teadustöö osas
- digitaalsüsteemide testimine ja rikete diagnostika
- intelligentsete testsüsteemide arhitektuurid
- Boole’i diferentsiaalalgebra rakendused loogikaskeemide diagnostikas
- alternatiivsete graafide kasutuselevõtt digitaalsüsteemide diagnostikas
- digitaaltehnika diagnostika tarkvara projekteerimine
- veakindlad arvutisüsteemid
- digitaalsüsteemide modelleerimine
c) teaduslik juhendamine – 15 kaitstud teaduskraadi
- juhendatud tehnikakandidaadid: M.Pall, A.Voolaine (1987), T.Evartson (1986), M.Plakk (1985), P.Kitsnik (1982)
- juhendatud magistrid: A.Buldas, H.Krupnova, S.Storozhev, J.Dushina, V.Zaugarov (1993), M.Brik (1994), J.Raik (1997),
  G. Jervan, E. Ivask, P. Paomets (1998)

7. LÄBIVIIDUD KURSUSI VÄLISMAAL

1998 - loengukursus firmas Ericsson Telecom AB (Stockholm, Rootsi) teemal “ Diagnostika” (4 tundi)
1995 - loengukursus Helsinki Tehnikaülikoolis (Soome) teemal “ Diagnostika” (16 tundi)
1995 - loengukursus Michigani Ülikooli (USA) tudengitele teemal “Digitaalsüsteemide diagnostika” (16 tundi)
1994 - loengukursus doktorandidele Darmstadti Tehnikaülikoolis (Saksamaa) teemal
             “Veakindlate digitaal-süsteemide projekteerimine” (12 tundi)
1991 -  loengukursus doktorandidele Linköpingi Ülikoolis (Rootsi) teemal “Digit.süsteemide diagn.” (16 tundi)
1991 -  loengukursus Riia Polütehnilises Instituudis ja tehases “VEF” teemal “Testide süntees ja analüüs
             arvutiskeemidele” (32 tundi)
1988 -  loengukursus Dresdeni Tehnikaülikoolis (Saksamaa) teemal “Digitaalsüsteemide diagnostika” (16 tundi)
1988 -  loengukursus Chemnitzi Tehnikaülikoolis (Saksamaa) teemal “Digitaalsüsteemide diagnostika” (16 tundi)
1988 -  loengukursused Ilmenau Tehnikaülikoolis (Saksamaa) teemal “Digitaalsüsteemide testimine ja diagnostika”
             (aastatel 1976, 1977, 1979, 1980, 1983, 1986 ja 1988 mahus 12 tundi)

8. TEADUSLIKUD PUBLIKATSIOONID

a) monograafiad

  1. Design of Automatic Test Equipments. (A. Seleznev, B. Dobriza, R. Ubar), Mashinostrojenie, Moscow, USSR, 1983, 224 p. (in Russian).
  2. Fehler in Automaten. (by D. Bochmann and R. Ubar),  VEB  Verlag  Technik, Berlin, 1989,  216 p.
b) tähtsamad teaduslikud artiklid
  1. Single Gate Design Error Diagnosis in Combinational Circuits (R.Ubar, D.Borrione). Proceedings of the Estonian Acad. of Sci. Engng, 1999, Vol. 5 , No 1, pp.3-21.
  2. Sequential Circuit Test Generation Using Decision Diagram Models (J.Raik, R. Ubar). IEEE Proc. of  Design Automation and Test in Europe. Munich, March  9-12, 1999.
  3. Cycle-based Simulation with Decision Diagrams (R.Ubar, A.Moraviec, J.Raik). IEEE Proc. of  Design Automation and Test in Europe. Munich, March  9-12, 1999.
  4. Combining Functional and Structural Approaches in Test Generation for Digital Systems  (R.Ubar). Journal of Microelectronics and Reliability, Elsevier Science Ltd. Vol. 38:3, pp.317-329, 1998.
  5. Multi-Valued Simulation of Digital Circuits with Structurally Synthesized Binary Decision Diagrams (R.Ubar). OPA (Overseas Publishers Assotiation) N.V. Gordon and Breach Publishers, Multiple Valued Logic, Vol.4  pp. 141-157, 1998.
  6. Dynamic Analysis of Digital Circuits with 5-valued Simulation (R. Ubar). In "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems". Kluwer Academic Publishers, pp.187-192, 1998.
  7. Hierarchical Test Generation for Digital Systems (M.Brik, G.Jervan, A.Markus, J.Raik, R.Ubar). In "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems". Kluwer Academic Publishers, pp.131-136, 1998.
  8.  Hierarchical Test Generation for Digital Systems Based on Combining Bottom-Up and Top-Down Approaches (J.Raik, R.Ubar). World Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics. Orlando, Florida, July 12-16, 1998, Vol.1, pp. 374-381.
  9. Dynamic Analysis of Digital Circuits with Multi-Valued Simulation (R. Ubar). Microelectronics Journal, Elsevier Science Ltd., Vol. 29, No. 11, Nov. 1998, pp.821-826.
  10. Generation of Tests for the Localization of Single-Gate Design Errors in Combinational Circuits Using the Stuck-at Fault Model (R.Ubar, D.Borrione). Proc. of the 11th IEEE Brasilian Symposium on Integrated Circuit Design. Rio de Janeiro, Brazil, Sept. 30 – Oct. 3, 1998, pp.51-54
  11. A New Approach to Build a Low-Level Malicious Fault List Starting from High-Level Description and Alternative Graphs (A. Benso, P.Prinetto, M.Rebaudengo, M.Sonza, R.Ubar). Proc. IEEE European Design& Test Conference, Paris, March 17-20, 1997, pp.560-565.
  12. Multi-Valued Simulation with Binary Decision Diagrams (R.Ubar, J.Raik). Proc.IEEE European Test Workshop, Cagliari (Italy), May 28-30, 1997, pp.28-29.
  13. Representing Transparency Conditions in Test Generation for VLSI by Decision Diagrams (R.Ubar). 1st Electronic Circuits and Systems Conference. Bratislava, September 4-5, 1997, pp.213-216.
  14. Multi-Valued Simulation of Digital Circuits (R.Ubar). Proc. of the IEEE 21st Int.  Conference on Microelectronics. Nis, Yugoslavia, September 14-17, 1997, pp. 721-724.
  15. Exploiting High-Level Descriptions for Circuits Fault Tolerance Assessments (A.Benso, P.Prinetto, M.Rebaudengo, M.Sonza Reorda, J.Raik, R.Ubar). 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. Paris, October 20-22, 1997, pp. 212-216.
  16.  Assembling Low-Level Tests to High-Level  Symbolic Test Frames (G. Jervan, A.Markus, J. Raik, R. Ubar). IEEE 15th NORCHIP Conference, Tallinn, November 10-11, 1997, pp. 275-280.
  17. Mixed-Level Test Generator for Digital Systems (M.Brik, G.Jervan, A.Markus, P.Paomets, J.Raik, R.Ubar). Proceedings of the Estonian Acad. of Sci. Engng, 1997, Vol. 3 , No 4, pp. 269-280.
  18. Test Synthesis with Alternative Graphs (R.Ubar). IEEE Design and Test of Computers. Spring, 1996, pp.48-59.
  19. Multi-Level Test Generation and Fault Diagnosis for Finite State Machines (R.Ubar, M.Brik). Lecture Notes in Computer Science No 1150. Dependable Computing - EDCC-2. Springer-Verlag, 1996, pp.264-281.
  20.  Low-Cost CAD System for Teaching Digital Test (R.Ubar, P.Paomets, J.Raik). Microelectronics Education. World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd. 1996, p.185-188.
  21. Electronics Competence Centre and Research in Digital Test at Technical University of Tallinn (R.Ubar). Invited paper. IEEE 14th NORCHIP Conference, Helsinki, November 4-5, 1996, pp.134-141.
  22. Case Study in Testing Digital Systems. Invited paper (R. Ubar). Baltic Electronics, Vol. 1, No. 1, Sept. 1995, pp.24-27.
  23. Fault Diagnosis in Digital Devices (R.Ubar). Proceedings of the Estonian Academy of Sciences, Engng, 1995, No. 1/1, pp.51-67.
  24. Electronics Competence Centre as a Result of European Projects at the Technical University of Tallinn. Invited paper (Ubar). Baltic Electronics, Vol. 1, No. 2, Dec., 1995, pp.9-11.
  25. Test Generation for Digital Systems Based on Alternative Graphs Theory. (R.Ubar). Lecture Notes in Computer Science No 852. Dependable Computing - EDCC-1. Springer-Verlag, 1994, pp.151-164.
  26. A PC-based CAD System for Training Digital Test (R. Ubar, A. Buldas, P. Paomets, J. Raik, V. Tulit). Proc. 5th EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training. Dresden, October 17-19, 1994, pp.152-157.
  27. Functional Level Testability Analysis for Digital Circuits (R.Ubar, K.Kuchcinski). Proc. of European Test Conference ETC'93, Rotterdam, April 19-22, 1993, pp.545-546.
  28. Alternative Graph Based Test Design in Digital Systems. Invited paper. (R.Ubar). Proc. of the 11. NORCHIP Conference, Trondheim (Norway), Nov. 9-10, pp.48-62, 1993.
  29. Diagnostic Software for Systems. In "Concise Encyclopedia of Software Engineering" (R.Ubar). Pergamon Press, 1992, pp.101-106.
  30. Testing of systems using software. In "Concise Encyclopedia of Software Engineering" (R.Ubar). Pergamon Press, 1992, pp.354-357.
  31. A set of tools for diagnosis of digital devices. (T.Lohuaru, R.Ubar). PC World, Information Computer Enterprise, Moscow, No1, 1991, pp.122-125 (in Russian).
  32. Digital test design based on alternative graphs. (R.Ubar). Proc. of the 2nd European Design Automation Conference, Amsterdam, February 25-28, 1991.
  33. Test generation of digital systems at functional level. (R.Ubar, K.Kuchcinski, Z.Peng). The 2nd European Test Conference, Munich, Germany, April 10-12, 1991.
  34. An approach to develop intelligent digital test systems. (R.Ubar). Periodica Polytechnica Ser. Electrical Engineering, Budapest, Vol.34, No.4, pp.233-244, 1990.
  35. Functional Level Test Set Generation Methods. Invited paper. (R. Ubar). Proc. of the 12th Conf. on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague, Sept.,1989, pp.46-55.
  36. 14. Ein universeller Weg zur Automatisierung des Testentwurfs für digitale Objekte (R. Ubar, T. Lohuaru). In “Fehler in Automaten” von D. Bochmann und R. Ubar, VEB Verlag Technik Berlin, 1989. S. 16-30.
  37. Alternative Graphs and Technical Diagnosis of Digital Devices. (R. Ubar). Electronic Techniques, Vol.8, No.5 (132), 1988, Moscow, pp.33-57 (in Russian).
  38. Test Generation for Microprocessor Control Mechanisms.(R.Ubar). Proc. of the 10th Conf. on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Varna, Bulgaria, September, 1987, pp. 305-311.
  39. Research and Development of Testing Methods for Digital Systems. (R.Ubar) DSc Dissertation. Institute of Electronics and Computer Science, Riga, 1986, 496p.
  40. Using Alternative Graphs for Automatization of Test Program Synthesis for Microprocessor LSI. (R. Ubar), Electronic Techniques Ser.8, 1985, Vol.5 (116), Moscow, pp.110-113.
  41. General Approach to Test Synthesis for Digital Circuits and Systems. (R. Ubar). Proc. of  the 10th All-Union Workshop on Technical Diagnostics, Tallinn, Oct., 1984, pp.75-81. (in Russian).
  42. Test Pattern Generation for Microprocessor Systems on the Alternative Graph Model. (R. Ubar), Proc. of the 3rd Int. Symposium of IMEKO Techn. Committee on Technical Diagnostics. Moscow, 1983, pp.403-410.
  43. Test Generation for Digital Systems on the Vector Alternative Graph Model. (R. Ubar). Proc. of the 13th International Symp. on Fault Tolerant Computing, Milano, Italy, 1983, pp.374-377.
  44. Automated Test Synthesis for Fault Diagnosis in Digital Devices. (T.Lohuaru, M.Pall, R.Ubar). Journal of Academy of Sciences of Estonia, Vol.32, Phys.& Math., 1983, No.1, pp.84-94 (in Russian).
  45. Generation of Complete Tests for Combinational Circuits. (R.Ubar), Journal of Academy of Sciences of Estonia, Vol.31, Phys.& Math., 1982, No.4, pp.418-427 (in Russian).
  46. Vektorielle Alternative Graphen und Fehlerdiagnose für digitale Systeme. (R. Ubar), Nachrichtentechnik/Elektronik, (31) 1981, H.1, pp.25-29.
  47. Test Generation for Digital Circuits by Alternative Graphs. (M.Plakk and R.Ubar), Automatics and Telemechanics, No.5, 1980, Moscow, pp.152-163 (in Russian).
  48. Beschreibung Digitaler Einrichtungen mit Alternativen Graphen für die Fehlerdiagnose.(R.Ubar), Nachrichtentechnik/Elektronik, (30) 1980, H.3, pp.96-102.
  49. Digital Circuit Test Design using the Alternative Graph Model. (M.Plakk, R.Ubar). Automation and Remote Control, Vol.41, No 5, part 2,  Nov. 1980, Plenum Publishing Corporation, USA, pp. 714-722.
  50. Detection of Suspected Faults in Combinational Circuits by Solving Boolean Differential Equations (R.Ubar). Automation and Remote Control, Vol.40, No 11, part 2,  Nov. 1980, Plenum Publishing Corporation, USA, pp. 1693-1703.
  51. Fault Diagnosis in Combinational Circuits by Solving Boolean Differential Equations. (R. Ubar), Automatics and Telemechanics, No.11, 1979, Moscow, pp.170-183 (in Russian).
  52. Minicomputer Software for Fault Localization Control in Digital Circuits. (T.Lohuaru, R.Ubar, A.Viilup), Preprints of IFAC/IFIP 2nd Int. Symposium, Prague, Czechoslovakia,  1979, v.1, pp. P-XIV-1-4.
  53. 64. Analysis of Diagnostic Tests for Combinational Circuits by Method of Backtracking of Faults. (R.Ubar). Automation and Remote Control, Vol.40, No.11, part 2, Nov. 1978. Plenum Publishing Corporation, USA, pp. 1254-1260.
  54. Berechnung von Boole'schen Ableitungen bei der Testsatzanalyse für digitale Schaltungen. Nachrichtentechnik/Elektronik, 1977, H.1, s.21-23.
  55. Analysis of Diagnostic Tests for Combinational Circuits by the Method  of Fault Backtracing.(R. Ubar), Automatics and Telemechanics, No.8, 1977, Moscow, pp.168-176 (in Russian).
  56. Multiple Fault Analysis in Logic Circuits. (R. Ubar), Proc. of the IFAC Symposium on Discrete Systems, Dresden, 1977, Band 4, pp.48-57.
  57. Test Generation for Digital Circuits with Alternative Graphs. (R.  Ubar), Proceedings of Tallinn Technical University, No.409, 1976, Tallinn, pp.75-81 (in Russian).
  58. Simulating System for Minicomputer Diagnostic Programs. (P.  Kitsnik,  R. Ubar, A.Viilup),  Preprints of IFAC/IFIP 1st Int.  Symp.,  Tallinn, August, 1976, pp.115-117.
c) autoritunnistused
  1. Equipment for Testing LSI. (T. Lohuaru and R.Ubar), A.C. No.1218390, Inf. Bull. No.10, 1986.
  2. Equipment  for  Testing  Synchronized  digital   circuits.  (T.Evartson, R.Ubar, A.Viilup), A.C. No.3772884/24, Inf. Bulletin No.25, 1986.
  3. Equipment for Fault Localization in Digital Objects. (T.Evartson, H.Haak, T.Lohuaru, R.Ubar), A.C. No.3984709/24, Inf. Bulletin No.19, 1987.
  4. Equipment for testing  VLSI.  (T.Lohuaru,  M.Männisalu,  P.Pukk,  R.Ubar, E.Vanamölder). A.C. No. SU 1652976 A1, Inf. Bulletin No.20, 1991.
Kokku on trükis avaldatud 195 teadustööd ning 78 artiklit ajakirjanduses ja kogumikes teadus- ning hariduspoliitilistel teemadel.

9. ÕPPEMETOODILISED PUBLIKATSIOONID JA ÕPPEMATERJALID

a)  tähtsamad publikatsioonid retsenseeritavates kogumikes

  1. Teaching Dependability Issues in System Engineering at the Technical University of Tallinn (R.Ubar). Global J. of Engineering Education, Vol.2, No 2, 1998 UICEE, Printed in Australia, pp. 215-218.
  2. Turbo Tester: A CAD System for Teaching Digital Test (G.Jervan, A.Markus, P.Paomets, J.Raik, R.Ubar). In "Microelectronics Education". Kluwer Academic Publishers, pp.287-290, 1998.
  3. Low-Cost CAD Software for Teaching Digital Test (R.Ubar, P.Paomets, J.Raik). Proc. of the First European Workshop on Microelectronics Education. Villard de Lans, France, February 5-6, 1996, p.48.
  4. Teaching Test and Design for Testability with TURBO-TESTER Software (G.Jervan, A.Markus, P.Paomets, J.Raik, R.Ubar). Proc. of the 3rd Workshop on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, May 1996, pp. 589-594.
  5. Education Environment for Electronics and Microsystems (M.Ajaots, M.Min, T.Rang, R.Ubar). Microelectronics Education. World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd. 1996,  p.145-148.
  6. New Curricula and a Competence Centre through TEMPUS at the Technical University of Tallinn (M. Glesner, T. Hollstein, B. Courtois, P. Amblard, R. Ubar, K. Vainomaa). Proc. EC Workshop on Design Methodologies for Microelectronics, Smolenice, 1995,  pp. 347-353.
  7. A PC-based CAD System for Training Digital Test (R. Ubar, A. Buldas, P. Paomets, J. Raik, V. Tulit). Proc. 5th EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training. Dresden, October 17-19, 1994, pp.152-157.
  8. Laboratory Course for Training "Digital Design and Test" (R.Ubar,V.Tulit, A.Buldas, M.Saarepera). Proc.of IV EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training, Toledo, Sept.30-Oct.2, pp. 112-117, 1993.
  9. TURBO TESTER. A Set of  Software  Tools  for  CAD  of  Test  for  Digital Circuits (R.Ubar, V.Tulit, A.Buldas, M.Saarepera). Proc.of IV EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training, Toledo, Sept.30-Oct.2, pp. 396, 1993.
  10. CAD für Digitaltechnik - Eine Programmfamilie für den Entwurf von Testmustern zum Test von Digitalschaltungen (R. Ubar). IBM Hochschulkongress'92. Offene Grenzen - offene Systeme. Dresden 1992, S. IV9 1-14.
b) õppematerjalid

Trükised:

  1. Digitaalarvutite operatsioonseadmed (R. Ubar). TPI, 1978, 103 p.
  2. Digitaalseadmete testimine I. (R. Ubar). TPI, 1980, 114 p. (vene k.)
  3. Digitaalseadmete testimine I. (R. Ubar). TPI, 1981, 112 p. (vene k.)
  4. Operatsioonautomaadid digitaalarvutites (R. Ubar).TPI, 1987, 96 p.
  5. Testitavate digitaalsüsteemide projekteerimine. (R. Ubar), TTÜ, 1988, 68 p. (vene k.).
Tähtsamad käsikirjalised õppematerjalid:
  1. Digitaalsüsteemide testimine ja diagnostika (T.Evartson, R.Ubar). TTÜ, 1995,128 lk.
  2. Hästitestitavate süsteemide disain  (T.Evartson, R.Ubar). TTÜ,1995, 100 lk.
  3. TURBO-TESTER. Backgrounder (P.Paomets, J.Raik, RUbar). TTÜ, 1995, 33 lk.
  4. TURBO-TESTER. User’s Guide (P.Paomets, J.Raik, R.Ubar). TTÜ, 1995, 52 lk.
  5. TURBO-TESTER. Reference Manual (P.Paomets, J.Raik, R.Ubar). TTÜ, 1995, 90 lk.


10. TOIMETUSTEGEVUS

1998  Analog Integrated Circuits and Signal Processing. Kluwer Academic Publ. Guest editor
1997  15. IEEE NORCHIP konverentsi kogumiku koostamine ja toimetamine
1996  5. Biennial Baltic Electronics konverentsi kogumiku koostamine ja toimetamine
1995 -Ajakirja “Baltic Electronics” toimetuskolleegiumi liige
1994  4. Biennial Baltic Electronics konverentsi kogumiku koostamine ja toimetamine
1991  “Digital Design” Soome-Eesti ühisseminari kogumiku koostamine ja toimetamine
1989  Monograafia “Fehler in Automaten” VEB Verlag Technik, 216 S, Berlin. koostamine ja toimetamine
1984  10. Üleliidulise Diagnostikakonverentsi kogumiku koostamine ja toimetamine
1980  Tallinna Tehnikaülikooli Toimetised (1980-1990)
1976  Arvutitehnika kateedri õppematerjalide toimetamine aaastatel 1976-1990

11. SEKTSIOONIDE JUHATAMINE RAHVUSVAHELISTEL KONVERENTSIDEL

European Test & Design Conference, Paris (France) – 1995, 1996, 1997
European Test Workshop – 1996, 1997, 1998
Baltic Electronics Conference, Tallinn – 1994, 1996, 1998
1998 - 2nd Int. Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland
1998 - 5th Electronic Devices and Systems Conference, Brno
1998 - 90th Anniversary Jubilee Seminar on Engineering Education, Wismar (Germany)
1997 - IEEE International Symp.on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.,Paris
1997 - IEEE 15th NORCHIP Conference, Tallinn
1997 - 21st International Conference on Microelectronics. Nis, Yugoslavia
1997 - 1st Electronic Circuits and Systems Conference, Bratislava
1996 - 2nd European Conference on Dependable Computing - EDCC-2, Taormina (Italy)
Mixed Design of Integrated Circuits and Systems – 1996, 1997, 1998
1994 - 39th International Conference, TU Ilmenau (Germany)
1994 - 5th EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training, Dresden (Germany)
1991 - Design Automation Conference APK'91, Kaunas (Lithuania)
1991 - 36th International Conference, TU Ilmenau (Germany)
1990 - International Workshop on Intelligent Measurement Systems, Budapest (Hungary)
1989 - 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague (Czech Rep.)
1989 - 3rd Symposium on Multiprocessor Systems, Stralsund (Germany)
1988 - 33rd International Conference, TU Ilmenau (Germany)
1988 - International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Suhl (Germany)

12. TÖÖ RAHVUSVAHELISTE KONVERENTSIDE PROGRAMMIKOMITEEDES

Design Automation and Test in Europe (DATE) – 1998, 1999
European Test & Design Conference (ED&TC) – 1996, 1997
IEEE NORCHIP Conference - 1997 (Programmikomitee esimees), 1998, 1999
European Test Workshop (ETW) – 1996, 1997, 1998, 1999
European Workshop on Dependable Computing (EWDC) – 1998, 1999
European Conference on Dependable Computing (EDCC) – 1994, 1996, 1999
Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES) – 1996, 1997, 1998, 1999
Int. Conference on Electronics Circuits and Systems, Bratislava – 1997, 1999
Int. Conference on Design and Diagnostics of Electronics Circuits – 1998
Int. Conference on Computers and Electronics, Dubrovnik (Croatia) – 1998, 1999
Baltic Electronics Conference, Tallinn – 1994, 1996, 1998
1996 - International CAD Conference, Gelengick (Russia)
1996 – Eesti Teadlaste Konverents, Tallinn
International Conference on CAD, Jalta (Ukraine) – 1994, 1995
1994 - 5th EUROCHIP Workshop on VLSI Design Training, Dresden (Germany)
1993 - Int. Conf. "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg (Russia)
1991 - Design Automation Conference APK'91, Kaunas (Lithuania)
1990 – International Workshop on Intelligent Measurement Systems, Budapest (Hungary)
1989 – 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague (Czech Rep.)
1989 – 3rd Symposium on Multiprocessor Systems, Stralsund (Germany)
1988 – International Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Suhl (Germany)

13. TÄHTSAMAD TEADUSPROJEKTID (aastatel 1993-1998)

Euroopa Ühenduse projektid:

  1. INCO JEP 977133 VILAB (1998-2001) “Microelectronics Virtual Laboratory for Cooperation in Research and Knowledge Transfer”
  2. INCO-COPERNICUS JEP 9601/70 SYTIC (1996-1998) “Promotion of System Design Training and Information Centers in CCE/NIS”
  3. COPERNICUS JEP 9624 "Functional Test Generation  and  Diagnosis" (FUTEG) (1994-1997)
  4. PECO JEP 7668 "East European Microelectronics Cooperation Network of Support and Competence Centres (EEMCN)" (1993-1996)
  5. ESPRIT III BRA-6575 “Advanced test generation and testable design methodology for sequential circuits (ATSEC)” (1994-1996)
  6. ESPRIT Action EUROPRACTICE (1993-1995)
  7. ESPRIT Action EUROPRACTICE (1995-)
  8. TEMPUS JEP 4772 "Digital System Design Based on PLD-Technology" (1992-95)


Bilateraalsed rahvusvahelised projektid:

  1. EST-008-96 “Automated Test Generation for FPGA based Designs” (1996-1999). Partner: Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden (Saksamaa).
  2. “Generic VHDL Descriptions for Synthesizing Embedded Test Processors” (1996). Partner: Jonköping University (Rootsi).
  3. “Digital Encryption Standard Macroblock” (1996). Partner: Fincitec OY Finland (Soome)
Eesti Fondide grantid:
  1.  Digitaalsüsteemide diagnostilise analüüsi hierarhiliste meetodite uurimine ja väljatöötamine. Eesti Teadusfondi grant G-1850, 1996-1999.
  2. Digitaalelektroonika nüüdisaegse projekteerimise ja teadusuuringute eksperimentaalkeskkond. Eesti Teadusfondi grant G-2104, 1996-1998.
  3. Meetodid ja tarkvara digitaalsüsteemide diagnostikas. ETF grant G-1433, 1993-1995.
  4. TTÜ elektroonika kompetentsuskeskuse infrastruktuur. ETF grant G-1434, 1993.
  5. Andmeturve riistvara projekteerimise ja valmistamise keskkonna välja arendamine. Informaatikafondi grant (leping nr. 227), 1993-1995.
  6. Kaasaegse elektroonika, arvutustehnika ja informatsioonitehnika vahendite disaini käivitamine Eestis. Innovatsioonifondi grant, 1994-1995.
  7. Kaasaegse elektroonikadisaini käivitamine Eestis. Eesti Valitsuse grant TTÜ Elektroonika Kompetentsuskeskusele, 1994-1995.


Projektid Eesti ettevõtetega:

  1. Lepinguline töö nr. 6412 “Krüptokiibi prototüübi tehnoloogilise faili projekteerimine” (1996). Partner: Küberneetika instituut.
  2.  Lepinguline töö “Krüptokiibi prototüübi testimine ja dokumentatsiooni väljatöötamine” (1996-1997). Partner: Küberneetika instituut.


14. RAHVUSVAHELINE KOOSTÖÖ (aastatel 1993-1998)

Koostöö europrogrammide raames:

  1. Grenoble’i Rahvuslik Polütehniline Instituut (Grenoble, Prantsusmaa) - COPERNICUS 9624, PECO 7668
  2. Grenoble’i Fourier Ülikool (Prantsusmaa) - COPERNICUS 9624, PECO 7668
  3. Rutherford Appleton Laboratory (UK) - INCO-COPERNICUS 9601/70
  4. Technical University Darmstadt - INCO 977133
  5. Fraunhofer Gesellschaft Institute of ICs (Dresden, Saksamaa) - COPERNICUS 9624, PECO 7668
  6.  Microelectronics IME Ltd. (Sofia, Bulgaaria) - PECO 7668
  7. Slovak Technical University (Bratislava, Slovaki Vabariik) - COPERNICUS 9624, PECO 7668, INCO-COPERNICUS 9601/70
  8. Institute of Computer Sciences (Bratislava, Slovaki Vabariik) - PECO 7668
  9. Czech Technical University (Praha, Tšehhi Vabariik) - PECO 7668
  10. Technical University of Budapest (Budapest, Ungari) - COPERNICUS 9624, PECO 7668
  11. Institute of Electron Technology (Varssavi, Poola) - PECO 7668
  12. Warsaw Univ. of Technology (Varssavi, Poola) - PECO 7668, INCO-COPERN 9601/70
  13. Riia Elektroonika- ja Arvutustehnika Instituut (Riia. Läti) - PECO 7668
  14. Kaunase Tehnoloogia Ülikool (Kaunas, Leedu) - COPERNICUS 9624, PECO 7668
  15. GMD (St. Augustin, Saksamaa) - ESPRIT 6575, INCO-COPERNICUS 9601/70
  16. Technische Universität Duisburg (Saksamaa) - ESPRIT 6575
  17. Politechnico di Torino (Itaalia) - ESPRIT 6575
  18. University of Montpellier (Prantsusmaa) - ESPRIT 6575
  19. University of Twente (Holland) - ESPRIT 6575
  20. Institute of Operating Systems (Moscow, Russia) - INCO-COPERNICUS 9601/70
  21. Vladimir State Technical University (Russia) - INCO-COPERNICUS 9601/70
  22. Technical University Lodz (Poola) - INCO-COPERNICUS 9601/70
  23. Technical University Sofia (Bulgaaria) - INCO-COPERNICUS 9601/70
  24. Linköping University – INCO 977133


Koostöö muude teadusasutuste või organisatsioonidega:

  1. Töö Euroopa Ühenduse Assotsiatsioonis EUROPRACTICE Koostööleping: elektroonikadisaini tarkvara soetamine, hooldamine, integraalskeemide fabritseerimine
  2. Ericsson Telecom AB – sponsorlus, koostöö INCO 977133 raames
  3. Jonköpingi Ülikool (Rootsi) Koostööleping: Lepinguline töö.
  4. DIGSIM Data A.B. (Linköping, Rootsi) Koostööleping: tarkvara vahetus, tehnoloogiasiire.
  5. Michigani Ülikool (USA) Koostööleping: üliõpilaste ja õppejõudude vahetus
  6. Joseph Fourier Ülikool (Grenoble, Prantsusmaa) Koostööleping: doktorantuuri kaasjuhendamine
  7. Fincitec OY (Soome). Lepinguline töö.
  8. Helsinki Tehnol. Ülikool (Soome) – kursuste läbiviimine arvutite diagnostika  valdkonnas
  9. Torino Polütehniline Instituut (Itaalia) – ühisartiklite avaldamine
  10. Trondheimi Tehnikaülikool (Norra) – doktoritööde oponeerimine
  11. Lundi Ülikool (Rootsi) – toetus elektroonika komp.keskuse (EKK) arendamisel
  12. Tampere Tehnoloogiaülikool (Soome) - toetus EKK arendamisel
  13. Digital Equipment Corporation (USA) - toetus EKK arendamisel
  14. SUN Microsystems (USA) - toetus EKK arendamisel
  15. Stockholmi Kuninglik Tehnoloogiainstituut (Rootsi) - toetus EKK arendamisel


15. TEGUTSEMINE ELUKUTSE ALAL

a) Organisatsiooniline tegevus ülikoolis:

  1. TTÜ Nôukogu liige (1987-1995)
  2. TTÜ Konkursikomisjon (1992-1994 esimees, 1994-1996 komisjoni liige)
  3. Elektrotehnika doktorite nôukogu esimees (1992-1995)
  4. TTÜ nôukogu arengukomisjoni liige (1994- 1995)
  5. TTÜ nôukogu teaduskomisjoni liige (1994- 1995)
  6. Automaatika teaduskonna nôukogu liige (1992-1996)
  7. Infotehnika teaduskonna nõukogu liige (1997 - )
b) Organisatsiooniline tegevus väljaspool ülikooli Eestis:
  1. Eesti Teaduste Akadeemia tegevliige (alates 1993)
  2. Eesti TA Informaatika ja Tehnikateaduste Osakonna büroo liige (alates 1994)
  3. Presidendi juures asuva Akadeemilise Nõukogu liige (1994-1997)
  4. Eesti Teadus- ja Arendusnõukogu liige (1995-1997)
  5. Eesti Teaduse Sihtasutuse esimees (1993-1997)
  6. Eesti Teaduse Sihtasutuse Tehnikateaduste ekspertkomisjoni esimees (1993-1997)
  7. Eesti Teadlaste Liidu Volikogu liige (alates 1991 - ?)
  8. Eesti Automaatikute seltsi liige (alates 1991)
  9. Eesti Elektroonikaühingu liige (alates 1992)
  10. Eesti Vabariigi teaduspreemiate komisjoni liige (1994-1996)
  11. Eesti Informaatikanôukogu ekspert (alates 1993 - ?)
  12. Kultuurialase eesti-saksa segakomisjoni liige Haridusministeeriumi juures (alates 1994 - ?)
c) Organisatsiooniline tegevus  ja kuuluvus väljaspool Eestit:
  1. European Test Technology Technical Committee (ETTTC), liige (alates 1995)
  2. IEEE Education Society (USA), liige (alates 1995)
  3. IEEE Computer Society (USA), liige (alates 1995)
  4. IEEE Technical Council on Software Engineering European regional group (alates 1995)
  5. Assotiation for Computin Mashinery (USA), liige (alates 1996)
  6. Saksamaa Informaatikaühing (GI), liige (alates 1995)
  7. Euroopa Liidu assotsiatsioon EUROPRACTICE, liige (alates 1995)
  8. Euroopa Liidu assotsiatsioon EUROCHIP, liige (1993-1995)
  9. USA Elektri- ja Elektroonikainseneride Instituudi (IEEE) ühing, liige (alates 1994)
  10. Steering Committee of the European Dependable Computing Conference (alates 1994)
  11. Council of the All-Union Association of Technical Diagnostics (1991-1993)
  12. International Academy of Sciences and Arts, USA (alates 1996)
  13. Balti Tehnoloogiateaduste Akadeemia, asutajaliige (1992)


16. AUTASUD
1996 - EL individuaalgrant TEMPUS-e raames (2 kuu stipendium tööks Torino Polütehnilises Instituudis)
1993 - Prantsuse Valitsuse grant (4 kuu stipendium tööks Grenoble’i Polütehnilises Instituudis)
1992 - Rootsi Instituudi grant (2 kuu stipendium tööks Linköpingi ülikoolis)
1988 - Saksa DV grant tööks Barkhauseni õppetoolil (4 kuud) Dresdeni Tehnikaülikooli juures
1986 - 2 hõbemedalit Üleliiduliselt Rahvamajanduse Näituselt Moskvas
 
 
 

Raimund-Johannes Ubar
Tallinn, 15. veebr. 1999